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      介電常數(shù)及介質(zhì)損耗與頻率的關(guān)系

      更新時(shí)間:2022-12-26      點(diǎn)擊次數(shù):2843

      LJD-C_白底750圖_副本.jpg

      介電常數(shù)及損耗與頻率的關(guān)系

      一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/p>

      了解幾種介質(zhì)材料的介電系數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角正切(tagδ) 的頻率特性;了解電容介質(zhì)材料在各種頻率范圍內(nèi)的測(cè)量方法和熟悉Q表的使用;了解接線(xiàn)的長(zhǎng)短對(duì)介電系數(shù)和損耗角正切測(cè)量準(zhǔn)確度的影響。

       

      二、實(shí)驗(yàn)原理

      1、Q表簡(jiǎn)介及其工作原理  Q表是利用諧振效應(yīng)來(lái)測(cè)量電路參數(shù)的多用途測(cè)量?jī)x器。它能測(cè)量電感或諧振回路的Q值、電感器的電感量及其分布電容量、電容器的電容量和損耗角、電工材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路的有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻、傳銅線(xiàn)的特征阻抗等。2、用諧振法來(lái)測(cè)量試品的電容Cp是根據(jù)諧振回路的諧振條件來(lái)求得的。測(cè)量時(shí)要調(diào)諧兩次,先是不接試樣,諧振條件為:    

       image.png

       然后接入試品,調(diào)節(jié)可調(diào)電容使回路出現(xiàn)諧振,即C的兩端電壓達(dá)到最大,這時(shí)諧振條件為:

      image.png 

      試品的電容Cp可從接和不接試品兩次諧振時(shí),調(diào)諧電容C的變化量ΔC來(lái)求得。 


      三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

      選擇合適頻率一定厚度一定的電感測(cè)量它在不同接線(xiàn)下的電容變化、電感變化。

       

      四、實(shí)驗(yàn)步驟

      ①選一個(gè)適當(dāng)?shù)闹C振電感接到儀器上方的接線(xiàn)柱“LX"的兩端;②利用儀器左上角偏下的頻率增減按鈕和儀器中部偏左下方的頻率調(diào)諧數(shù)碼開(kāi)關(guān)(細(xì)調(diào))調(diào)節(jié)信號(hào)源的頻率(本實(shí)驗(yàn)頻率與諧振電感一一對(duì)應(yīng))③將儀器右上角左邊的微調(diào)電容旋鈕調(diào)至零,右邊的主調(diào)電容器旋鈕調(diào)到最大值附近。調(diào)節(jié)主調(diào)電容器旋鈕,緩慢減小電容值,使測(cè)試回路諧振(此時(shí)儀器中部的Q值調(diào)諧指示指針讀數(shù)最大),令此時(shí)的電容值為C1(讀數(shù)見(jiàn)主調(diào)諧旋鈕上方的C、L指示表),令諧振器Q的讀數(shù)為Q1(讀數(shù)見(jiàn)儀器中上方的Q值數(shù)碼管);如果被測(cè)電容是小數(shù)值的,C1應(yīng)該調(diào)到較小電容值附近,以便達(dá)到盡可能高的分辨率;④將被測(cè)電容器接在儀器頂端的接線(xiàn)柱“CX"兩端,調(diào)節(jié)主調(diào)電容器旋鈕,使測(cè)試回路再次諧振。令新的調(diào)諧電容值為C2和指示Q值為Q2。⑤將第④步的接線(xiàn)改變?yōu)閮筛?,調(diào)節(jié)主調(diào)電容器旋鈕,使測(cè)試回路再次諧振。令新的調(diào)諧電容值為C2和指示Q值為Q2。反復(fù)此步驟將接線(xiàn)接到四根為止。

      ⑥將第⑤步的電感型號(hào)換一下繼續(xù)按照第⑤步測(cè)量一組數(shù)據(jù)作為對(duì)比。


      五、數(shù)據(jù)記錄及處理

      計(jì)算公式:

      1、被測(cè)電容器的電容值:

      image.png 

      2、圓形介質(zhì)的介電系數(shù):

      image.png 

      其中h為電極厚度,D為電極直徑3、損耗角正切:

      image.png 

      D=50mm   h=2.205mm

      電感型號(hào)

      頻率

      線(xiàn)數(shù)

      L

      C1

      Q1

      C2

      Q2

      CX

      tgδ

      ε

      LK-2

      9MHZ

      1

      1.079MH

      305.6P

      253.6

      289.8P

      228.6

      15.8

      0.0083

      1.003uf/mm



      2

      1.102MH



      283.7P

      159.9

      21.9

      0.0322

      1.39uf/mm



      3

      1.124MH



      278.2p

      107.3

      27.4

      0.0599

      1.74uf/mm



      4

      1.164MH



      268.6P

      74.6

      37

      0.0781

      2.349uf/mm

      LK-9

      900khz

      1

      105.2MH                                                                         

      313.3P

      230.2

      297.5P

      203.6

      15.8

      0.0112

      1.003uf/mm



      2

      107.1MH



      291.8P

      192.8

      21.5

      0.0122

      1.365uf/mm



      3

      108.7MH



      287.5P

      189.0

      25.8

      0.0114

      1.638uf/mm



      4

      113.1MH



      276.3P

      163.0

      37

      0.0152

      2.349uf/mm

      六、實(shí)驗(yàn)結(jié)果總結(jié)

         由以上數(shù)據(jù)處理可以看到當(dāng)導(dǎo)線(xiàn)條數(shù)的增加對(duì)測(cè)量結(jié)果影響顯著,首先它的介電損耗隨著導(dǎo)線(xiàn)數(shù)增加而增加,測(cè)量的電感量也增大,同時(shí)它的介電系數(shù)也增加。從而導(dǎo)線(xiàn)長(zhǎng)短對(duì)測(cè)量結(jié)果顯著影響,從而應(yīng)該適當(dāng)減小導(dǎo)線(xiàn)長(zhǎng)度來(lái)減少實(shí)驗(yàn)誤差。


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