LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術：DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀概述：

　　LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術：

　　雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

　　雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

　　雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

　　自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

　　全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

　　DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

　　計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關注量程和換算單位。

　　主要技術特性：

　　Q 值測量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

　　固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　電感測量范圍:       4.5nH ～ 140mH

　　電容直接測量范圍:   1 ～ 200pF

　　主電容調(diào)節(jié)范圍:     18 ～ 220pF

　　主電容調(diào)節(jié)準確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

　　信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

　　頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

　　頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個字

　　夾具工作特性

　　1.平板電容器：

　　極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

　　極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

　　2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

　　3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

　　4.測微桿分辨率：0.001mm

      標準配置：

適用單位：

可以用于科研機關，學校，例如一些科研院所，大專院?；蛴嬃繙y試部門的實驗室需要用介電常數(shù)儀對絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切及介電常數(shù)進行測試；北京航天易達檢測儀器同時也適用于工廠或單位，例如一些工廠對無機非金屬新材料性能的應用進行研究，另外在電力、電工、化工等領域，如：電廠、電業(yè)局實驗所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質(zhì)損耗和相對介電常數(shù)ε的質(zhì)量檢測等等。